鎢燈絲掃描電鏡(TungstenFilamentScanningElectronMicroscope,TFE-SEM)是一種常見的高分辨率成像技術(shù)。它利用高速電子掃描樣品表面,可以得到樣品表面的高分辨率像,常用于研究材料的形貌、微結(jié)構(gòu)和成分等。鎢燈絲掃描電鏡總發(fā)射電流以及束斑都比較大,抗干擾能力還有穩(wěn)定性都比較好,低真空下能夠?qū)Σ粚?dǎo)電樣品無荷電成像,能夠使用于形貌觀察、顯微結(jié)構(gòu)分析以及斷口形貌分析,在材料領(lǐng)域、地質(zhì)領(lǐng)域、礦產(chǎn)領(lǐng)域、冶金領(lǐng)域、機械領(lǐng)域、化學(xué)領(lǐng)域、化工領(lǐng)域、物理領(lǐng)...
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